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ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群

最終更新日:2024年4月4日
設備ID KU-513
分類 膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定(動的光散乱)
膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定(動的光散乱)
設備名称 ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system)
設置機関 九州大学
設置場所 九州大学ウエスト3号館607
メーカー名 大塚電子 (Otsuka Electronics)
型番 ELSZ-2
キーワード DLS、SLS、ナノ粒子、コロイド、高分子、ミセル、リポソーム、細胞、ゼータ電位、粒度分布測定(動的光散乱)
仕様・特徴 【ゼータ電位/粒径測定システム:ELSZ-2】
・粒子径測定範囲(0.6-7000nm)
・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV)
・測定濃度範囲:粒径0.00001-40%
・ゼータ電位濃度範囲:0.001-40%
・(希薄、濃厚試料対応)
・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応
・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能
設備状況 稼働中
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KU-513
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