ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群
最終更新日:2024年4月4日
設備ID | KU-513 |
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分類 |
膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定(動的光散乱) 膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定(動的光散乱) |
設備名称 | ゼータ電位・粒径・分子量測定装置群 (Zeta-potential and particle analyzer system) |
設置機関 | 九州大学 |
設置場所 | 九州大学ウエスト3号館607 |
メーカー名 | 大塚電子 (Otsuka Electronics) |
型番 | ELSZ-2 |
キーワード | DLS、SLS、ナノ粒子、コロイド、高分子、ミセル、リポソーム、細胞、ゼータ電位、粒度分布測定(動的光散乱) |
仕様・特徴 | 【ゼータ電位/粒径測定システム:ELSZ-2】 ・粒子径測定範囲(0.6-7000nm) ・ゼータ電位測定範囲(-200-200mV) ・測定濃度範囲:粒径0.00001-40% ・ゼータ電位濃度範囲:0.001-40% ・(希薄、濃厚試料対応) ・温調機能搭載、ゼータ電位の低誘電率溶媒測定対応 ・平板試料用セルを用いた基板・フィルムのゼータ電位測定可能 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KU-513 |