透過型電子顕微鏡装置群
| 設備ID | KU-512 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 透過型電子顕微鏡装置群 (Transmission Electron Microscope) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学ウエスト3号館112 九州大学ウエスト3号館116 九州大学ウエスト3号館114 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2010、JASM-6200 |
| キーワード | TEM、粉末、薄膜、触媒、ナノ粒子、ウルトラミクロトーム、走査型電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 【JEM-2010】 ・最高加速電圧：200kV、点分解能：0.23nm ・加速電圧：120, 200kV 【付帯設備：ウルトラミクロトームEM UC7 Leica社製】 ・薄片試料の作成に最適 ・実体顕微鏡 ・室温のみ対応 【JASM-6200】 ・液中観察(大気圧下観察) ・×10～100,000倍観察 ・明視野、蛍光観察 (光学顕微鏡) ・電磁２段ズームコンデンサレンズ |
