紫外可視近赤外分光測定装置装置群
| 設備ID | KU-505 |
|---|---|
| 分類 |
状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > 紫外・可視分光 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > 近赤外分光 |
| 装置名称 | 紫外可視近赤外分光測定装置装置群 (UV-Vis-NIR spectrometer) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学ウエスト3号館 607 九州大学ウエスト3号館 115 |
| メーカー名 | 島津製作所日本分光パーキンエルマー (ShimazuJASCOPerkinElmer) |
| 型番 | SolidSpec-3700DUVV-670SpotLight400 |
| キーワード | UV、ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析、紫外・可視分光、赤外分光、近赤外分光 |
| 仕様・特徴 | 【紫外可視近赤外分光測定装置:V-670】 ・Abs=7まで測定可能、積分球対応、液体測定温度制御可能、 ・固体、液体サンプル測定可能、 ・積分球を用いた拡散反射スペクトル測定可能 【UV-Vis-NIR分光光度計：SolidSpec-3700DUV】 ・測定波長 165～3300 nm(但し積分球測定は175 nm～2600 nm) 分解能0.1nm、 ・大型鏡面反射測定，積分球ﾕﾆｯﾄ（固体測定）， ・直接測光ﾕﾆｯﾄ(液体測定）深紫外領域測定対応、InGaAs検出器搭載、 ・温度制御セルチェンジャー対応可能（多量サンプル測定可能）、測定温度制御可能 【中赤外・遠赤外吸収測定装置：Spectrum400 FT-IR/FIR SpotLight400 IRイメージング】 ・ラインスキャンによる高速IRイメージング。 ・ATRプローブによる顕微ATR測定、遠赤外領域のATR測定対応 ・プローブによるポイント反射・透過IR測定も可能。 ・測定範囲7800～650 cm-1 、4500～680 cm-1でのATR測定 ・赤外顕微鏡 (イメージング機能)、イメージング分解能6.25 μm～ |
