表面・界面分子振動解析装置
| 設備ID | KU-503 |
|---|---|
| 分類 | 表面分析（深さ方向元素分析を含む） > 二次イオン質量分析 （SIMS）(TOF,磁場など） |
| 装置名称 | 表面・界面分子振動解析装置 (Surface・interface molucular vibration analysis system) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学ウエスト3号館310 |
| メーカー名 | 東京インスツルメンツ (Tokyo Instruments ) |
| 型番 | Spectra-Physics |
| キーワード | SFG、表面敏感、ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析 |
| 仕様・特徴 | ・検出器：STREAK SCOPE C4334（浜松ホトニクス）/検出器：光電子増倍管（浜松ホトニクス）ピコ秒YAGレーザー(EKSPLA社) 励起パルス幅：1.5 ps、励起波長：400 nm付近、偏光オプション付き,測定範囲：1500～4000 cm-1 |
