XAFS/SAXS計測ビームライン
| 設備ID | KU-017 |
|---|---|
| 分類 |
状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > エックス線吸収端構造解析
（nearedgeを含む） 回折・散乱 > X線回折 |
| 装置名称 | XAFS/SAXS計測ビームライン (XAFS/SAXS Synchrotron Beamline) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州シンクロトロン光研究センター(SAGA-LS)内BL06 |
| メーカー名 | 専用装置（独自開発） ((original)) |
| 型番 | 専用装置（独自開発） |
| キーワード | X線計測、構造解析、状態分析、触媒、高分子、薄膜、ナノ材料 |
| 仕様・特徴 | 高輝度シンクロトロン光を利用した計測装置、硬X線 |
