低温域観測型・高分解能電子顕微鏡
| 設備ID | KU-016 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > その他 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | 低温域観測型・高分解能電子顕微鏡 (Cryonenic analytical TEM) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学超顕微解析研究センターCE21棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM300F2 |
| キーワード | ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析、磁性材料 |
| 仕様・特徴 | 低温域での高分解能電顕観察、照射系・結像系の収差補正、EDS(158mm2 SDD) による高感度組成・状態分析電子線トモグラフィ、その場観察、電圧印加、加熱・冷却・ガス雰囲気、磁区観察、加速電圧：80, 200, 300 kV、電位・化学組成複合解析システム |
