ハイコントラスト補助電子顕微鏡
| 設備ID | KU-009 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | ハイコントラスト補助電子顕微鏡 (Conventional high contrast electron microscope) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学超顕微解析研究センターCE21棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100HCKM |
| キーワード | ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析 |
| 仕様・特徴 | 組織観察/電子解析図形収集の汎用機、加速電圧：100,120,200ｋV、CMOSカメラ(4K) |
