広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡
| 設備ID | KU-004 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > 低エネルギー電子顕微鏡 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > その他 |
| 装置名称 | 広電圧超高感度原子分解能電子顕微鏡 (30-200 kV Atomic resolution analytical electron microscope) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学超顕微解析研究センターCE21棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200CF |
| キーワード | ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析、低加速電圧、ダメージの抑制 |
| 仕様・特徴 | 照射系・結像系の収差補正、EDS（100mm2 SDD２機搭載 立体角1.7sr)/EELSによる高感度組成・状態分析、加速電圧：30, 60, 80, 120, 200ｋV、その場観察、 加熱・冷却・電圧印加・ガス雰囲気 |
