収差補正走査/透過電子顕微鏡
| 設備ID | KU-002 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > その他 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | 収差補正走査/透過電子顕微鏡 (Cs corrected scannning transmission electron microscope ) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学超顕微解析研究センターCE21棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| キーワード | ナノ材料、構造解析、組成分析、状態分析 |
| 仕様・特徴 | 照射系・結像系の収差補正、EDS/EELSによる高感度組成・状態分析 |
