電子分光型超高圧分析電子顕微鏡
| 設備ID | KU-001 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 超高圧電子顕微鏡 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > その他 回折・散乱 > 電子回折 |
| 装置名称 | 電子分光型超高圧分析電子顕微鏡 (1300 kVHigh Voltage Electron Microscope ) |
| 設置機関 | 九州大学 |
| 設置場所 | 九州大学超顕微解析研究センターCE20棟 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-1300NEF |
| キーワード | 厚い電顕試料、構造解析、組成分析、状態分析、高加速電圧 |
| 仕様・特徴 | オメガ型エネルギーフィルター搭載の超高圧電顕、最高加速電圧1300kV、電子線トモグラフィ、レーザーパルス光照射、その場観察、冷却・加熱引張試験 |
