モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡
| 設備ID | KT-403 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡 (Monochromated atomic resolution analytical electron microscope) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学宇治キャンパス |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F |
| キーワード | 微細構造観察 結晶構造解析 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散X線分光 透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。 ・加速電圧：200kV、60kV ・電子銃：ショットキー型 ・TEM分解能：0.1nm ・STEM分解能：0.08nm ・エネルギー分解能：0.03eV ・分析機能：EELS、EDS |
