球面収差補正透過電子顕微鏡
| 設備ID | KT-402 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 球面収差補正透過電子顕微鏡 (Spherical-aberration-corected transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学宇治キャンパス |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2200FS |
| キーワード | 微細構造観察 結晶構造解析 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 結像系の球面収差補正装置とインカラム型オメガフィルターを搭載した高分解能分析電子顕微鏡。 ・加速電圧：200kV ・電子銃：ショットキー型 ・TEM分解能：0.2nm ・エネルギー分解能：0.8eV ・分析機能：EELS |
