極低温透過電子顕微鏡
| 設備ID | KT-401 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 極低温透過電子顕微鏡 (Ultralow-temperature high-resolution transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学宇治キャンパス |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-2100F(G5) |
| キーワード | 微細構造観察 結晶構造解析 有機材料 ソフトマテリアル 透過型電子顕微鏡/ Transmission electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 液体ヘリウム冷却ステージを内蔵したクライオ電顕。溶液内のナノ集合体や有機材料の照射損傷を低減した観察が可能。クライオトランスファー機構装備。 ・加速電圧：200kV ・電子銃：ショットキー型 ・TEM分解能：0.2nm ・冷却温度：4.2K |
