半導体パラメータアナライザ
最終更新日：2024年4月2日
| 設備ID | KT-329 |
|---|---|
| 分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
| 設備名称 | 半導体パラメータアナライザ (Semiconductor Parameter Analyzer) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | ケースレーインスツルメンツ(株) (Keithley Instruments, Inc.) |
| 型番 | 4200-SCS |
| キーワード | 電気特性評価/ Electrical characterization |
| 仕様・特徴 | 最大200V印加、電流上限：2W/印加 電流最小分解能：0.1fA |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KT-329 |
