卓上顕微鏡(SEM)
| 設備ID | KT-325 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 卓上顕微鏡(SEM) (Tabletop SEM) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | (株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation) |
| 型番 | TM3000 |
| キーワード | 簡易型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡/ Scanning electron microscopy |
| 仕様・特徴 | 簡単な操作で高倍率の表面観察ができます。低真空観察法により、帯電しやすい試料でも金属コーティングをせず、そのまま観察ができます。 ・倍率 15～30,000倍 ・試料最大寸法 Φ70mm |
