X線回折装置
| 設備ID | KT-310 |
|---|---|
| 分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
| 装置名称 | X線回折装置 (Intelligent X-Ray Diffractometer) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | (株)リガク (Rigaku Corporation) |
| 型番 | SmartLab |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 電子回折/ Electron diffraction |
| 仕様・特徴 | ・試料水平保持方式 薄膜試料に歪み等を与えることなく取り付けることができ、最大サイズ8インチΦの試料の測定、および4インチΦの場合はエリアマップ測定が可能 ・多彩な薄膜評価 組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価、膜厚分析、界面ラフネス分析、密度分析、面内均一性評価など ・粉末解析に 定性分析、定量分析、結晶化度評価、結晶子サイズ/格子歪評価、格子定数の精密化、Rietveld解析など ・試料サイズ 最大φ8インチ ・組成分析、方位・配向分析、結晶性評価、格子緩和評価、格子歪・残留応力評価等の測定可能 |
