分析走査電子顕微鏡
| 設備ID | KT-302 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 分析走査電子顕微鏡 (Analytical Variable-Pressure Field Emission SEM) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | (株)日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Technologies Corporation) |
| 型番 | SU6600 |
| キーワード | 分析装置を備えた電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡/ Scanning electron microscopy |
| 仕様・特徴 | (株)日立ハイテクノロジーズ社製 SU6600 分解能 二次電子分解能：1.2nm 反射電子分解能：3.0nm EDX、EBSD、IRカメラ搭載 |
