深堀りドライエッチング装置(1)
最終更新日:2024年4月2日
設備ID | KT-234 |
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分類 | 膜加工・エッチング > プラズマエッチング |
設備名称 | 深堀りドライエッチング装置(1) (Reactive Ion Deep Silicon Etcher No.1) |
設置機関 | 京都大学 |
設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
メーカー名 | サムコ(株) (Samco Inc.) |
型番 | RIE-800iPB-KU |
キーワード | Siウェハ深掘り プラズマエッチング/ Plasma etching |
仕様・特徴 | ボッシュプロセスを導入したMEMS用高速シリコンエッチング装置 (13.56MHz,400KHz 電源搭載) ・ボッシュプロセス ・基板サイズ Φ6ウエハ 用途:Si |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KT-234 |