ICP質量分析装置
最終更新日：2024年4月2日
| 設備ID | KT-112 |
|---|---|
| 分類 | 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > 誘導結合プラズマ発光分光 |
| 設備名称 | ICP質量分析装置 (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) |
| 設置機関 | 京都大学 |
| 設置場所 | 京都大学 吉田キャンパス |
| メーカー名 | アジレント・テクノロジー(株) (Agilent Technologies, Inc.) |
| 型番 | Agilent7700s |
| キーワード | 誘導結合プラズマ質量分析/ Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry |
| 仕様・特徴 | Arプラズマでイオン化させたサンプルを四重極質量分析計で測定することで高感度元素分析を実現。 ・感度(Mcps/ppm)：50＠Li(7)、160＠Y(89)、80＠Tl(205) ・半導体アプリケーション専用設計 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=KT-112 |
