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全自動元素分析装置 (CHNS/O Elemental Analyzer)
- 設備ID
- NU-001
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Perkin Elmer社 (PerkinElmer)
- 型番
- 2400Ⅱ CHNS/O
- 仕様・特徴
- ・サンプル量分析範囲 ： ～500 mg（固体、液体）＊目的元素含有量に依存
・C(0.001～3.6 mg）、H（0.001～1.0 mg）N(0.001～6.0 mg）、S（0.001～2.0 mg）
・測定方式： 静的燃焼、フロンタルクロマトグラフィー、TCD検出
- 設備状況
- 稼働中
X線粉末回折装置 (X-ray Diffractometer (Powder Diffraction))
- 設備ID
- NU-002
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク社 (Rigaku)
- 型番
- Smart Lab 3K1d/2dDSC
- 仕様・特徴
- ・最大出力：9kW
・検出器：シンチレーションカウンター、半導体1次元検出器、二次元検出器
・Cuターゲット
・試料水平配置
- 設備状況
- 稼働中
蛍光X線分析装置 (X-ray Fluorescence Analyzer)
- 設備ID
- NU-003
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク社 (Rigaku)
- 型番
- NEX CG(EXDL 300)
- 仕様・特徴
- ・・エネルギー分散型 ・最大出力：50W
・二次ターゲット：Cu、Mo、Al、RX-9、Si
・検出器：Silicon Drift Detector ・試料サイズ：φ20
- 設備状況
- 稼働中
走査型電子顕微鏡（SEM） (Scanning Electron Microscope (SEM))
- 設備ID
- NU-004
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JSM-7500F
- 仕様・特徴
- ・電界放出形電子銃 ・二次電子分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV） ・倍率：×25～1,000,000 加速電圧：0.1～30kV ・ジェントルビーム
・オプション：リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS)
- 設備状況
- 稼働中
キラリティー分光装置群 (Circular Dichroism Spectrometer)
- 設備ID
- NU-006
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- JASCO社 (JASCO)
- 型番
- ECD J-702YS VCD FVS-6000 DRCD PCD-466
- 仕様・特徴
- ECD J-702Y（電子円二色性）
器：ヘッドオン型光電子倍増管
・測定波長範囲：163～900nm（標準検出器）
・CD分解能：0.0005mdeg（±10mdeg）, 0.01mdeg（±200mdeg）, 0.1mdeg（±2000mdeg）
・ペルチェ式温度コントローラ装備
・クライオスタット装備
VCD FVS-6000（振動円二色性）
・測定波数範囲：3200～850 cm-1 (PV-MCT)
・測定波数範囲：4000～2000 cm-1 (InSb)
・分解：0.5, 1, 2, 4, 8, 16cm-1
・光学系：シングルビーム
・干渉計：28°入射マイケルソン干渉計
・光源：高輝度セラミック光源
・検出器：PV-MCT, InSb
DRCD PCD-466（拡散反射円二色性分光装置）
・光源：450W Xeランプ 水冷方式
・検出器：ヘッドオン型光電子倍増管・測定波長範囲：163～900nm（標準検出器）
・CD分解能：0.0005mdeg（±10mdeg）, 0.01mdeg（±200mdeg）, 0.1mdeg（±2000mdeg）
- 設備状況
- 稼働中
液体ｸﾛﾏﾄｸﾞﾗﾌｨｰ (Liquid Chromatography)
- 設備ID
- NU-007
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- JASCO社 (JASCO)
- 型番
- 仕様・特徴
- JASCO製、ポンプ（PU-2080 Plus）, カラムオーブン（CO-2060 Plus）
測定温度範囲：4.0〜80.0℃
【付帯設備】
円二色性検出器(JASCO製、CD-2095)
旋光検出器(JASCO製、OR-2090 Plus)
- 設備状況
- 稼働中
動的光散乱（DLS） (Dynamic Light Scattering Analyzer (DLS))
- 設備ID
- NU-013
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Malvern社 (Malvern)
- 型番
- Zetasizer Nano ZS
- 仕様・特徴
- ・粒径分布、ゼータポテンシャル、分子量測定
・測定可能粒径：0.6nm-6μm、ゼータ電位：5nm-10μm
・分子量：1000-2×107Da
・試料濃度：<10nm : 0.5g/l、10nm-100nm : 0.1mg/l、100nm-1μm : 0.01g/l、>1μm : 0.1g/l
・ゼータ電位：-200～200mV
・光学系：レーザードップラー法
- 設備状況
- 稼働中
MALDI TOF型質量分析装置 (Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-flight Mass Spectrometer (MALDI-TOFMS))
- 設備ID
- NU-018
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker社 (Bruker)
- 型番
- MALDI TOF MS autoflex max
- 仕様・特徴
- Resolution ： ≥ 26,000 for Somatostatin 28 (m/z 3,147.47)FWHM
Mass range ： Up to 300,000 m/z
Laser type ： BRUKER smartbeam™-II laser, 355 nm Wavelength
Linear TOF , Reflector TOF , TOF/TOF-Method , High-energy CID-Method
- 設備状況
- 稼働中
微小単結晶X線構造解析装置 (Single crystal X-ray diffractometer)
- 設備ID
- NU-019
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- Rigaku(株) (Rigaku)
- 型番
- VariMax
- 仕様・特徴
- ・分解能可変X線集光ミラー搭載
・輝度：31kW/mm2
・電動カメラ長可変機構（25 - 110mm)
・CCD検出器（70mm x 70mm)
・Mo線源
・試料吹きつけ冷却装置（-180℃～室温)
- 設備状況
- 稼働中
粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布） (Particle Size & Zeta-potential Analyzer)
- 設備ID
- NU-020
- 設置機関
- 名古屋大学
- 設備画像
- メーカー名
- 大塚電子(株) (Otsuka Electronics)
- 型番
- ELSZ-2
- 仕様・特徴
- ・測定濃度範囲 ：0.001 % ～ 10 %
・ゼータ電位 ：-200 ～ 200 mV
・電気移動度 ：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s
・粒子径 ：0.6 nm ～ 7000 nm
・温度 ：10～90 ℃
・測定可能サンプル：微粒子分散液
・平板試料用セル（オプション）を用いた平板
・フィルム状サンプル測定にも対応しています。
・pHタイトレーター装備
・光学系：レーザードップラー法
低誘電率セル購入済み
- 設備状況
- 稼働中