走査型電子顕微鏡
最終更新日:2022年4月9日
設備ID | NU-227 |
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分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
設備名称 | 走査型電子顕微鏡 (Scanning electron microscope) |
設置機関 | 名古屋大学 |
設置場所 | ベンチャービジネスラボラトリ |
メーカー名 | 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech) |
型番 | S5200 |
キーワード | 表面形状分析 インレンズ 組成分析 |
仕様・特徴 | ・加速電圧:0.5kV~30kV ・分解能:0.5nm(30kV) ・倍率:~2,000,000 ・最大試料サイズ:5mm x 9.5mm |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NU-227 |