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セラミックス試料作製装置群

設備ID NM-407
分類 微小加工装置 > イオンミリング(TEM試料作製)
装置名称 セラミックス試料作製装置群 (Ceramics sample preparation facilities)
設置機関 物質・材料研究機構 (NIMS)
設置場所 NIMS並木地区 超高圧電子顕微鏡特殊実験棟 110号室
メーカー名 ガタン日立ハイテク真空デバイスマルトーTECHNOORG-LINDA (GatanHitachi High-TechVacuum DeviceMarutoTECHNOORG-LINDA)
型番 695PIPS II(精密イオン研磨装置)656 DimpleGrinder(ディンプルグラインダ)TM4000Plus II(卓上SEM)VES-30T(マルチコーター)ML-180 DoctorLap(卓上研磨機)MS2 MICROSAW(小型精密切断器)
キーワード 透過電子顕微鏡観察用薄膜試料の作製
仕様・特徴 ・精密イオン研磨装置:イオンビームエネルギー: 0.1~8 keV、試料冷却が可能、観察用デジタルズームカメラ付属

・ディンプルグラインダ:研磨ホイール径 15 mm、研磨荷重 0~40 g、自動停止機構付属

・卓上SEM:加速電圧:5-20kV、二次電子検出器および反射電子検出器

・マルチコーター:蒸着、イオンスパッタ、親水化処理

・卓上研磨機:研磨回転数 50~500 rpm

・小型精密切断器:50mmダイヤモンド回転刃
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