高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム
最終更新日：2023年6月29日
| 設備ID | NU-102 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分解能電子状態計測走査透過型電子顕微鏡システム (Ultra high resolution analytical scanning transmission electron microscope (ARM Cold)) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 超高圧電子顕微鏡施設 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JEM-ARM200F Cold |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | 加速電圧：80, 200kV TEM, STEM, EELS, EDS TEM点分解能：110pm STEM－HAADF分解能：78pm |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NU-102 |
