粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布）
最終更新日：2023年6月29日
| 設備ID | NU-020 |
|---|---|
| 分類 | 膜厚・粒度測定 > 粒度分布測定（動的光散乱） |
| 設備名称 | 粒径測定装置 ゼータ電位・粒径測定システム(ゼータ電位、粒径・粒度分布） (Particle Size & Zeta-potential Analyzer) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス |
| メーカー名 | 大塚電子(株) (Otsuka Electronics) |
| 型番 | ELSZ-2 |
| キーワード | 粒径分布評価 ゼータ電位評価 |
| 仕様・特徴 | ・測定濃度範囲 ：0.001 % ～ 10 % ・ゼータ電位 ：-200 ～ 200 mV ・電気移動度 ：-20×10-4～20×10-4cm2/V・s ・粒子径 ：0.6 nm ～ 7000 nm ・温度 ：10～90 ℃ ・測定可能サンプル：微粒子分散液 ・平板試料用セル（オプション）を用いた平板 ・フィルム状サンプル測定にも対応しています。 ・pHタイトレーター装備 ・光学系：レーザードップラー法 低誘電率セル購入済み |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NU-020 |
