単原子分析電子顕微鏡
本設備の共用は終了しています。
後継の設備や同様の設備は、「共用設備検索」から検索するか「技術サポート・機器利用のお問い合わせ」よりお問い合わせください。
最終更新日：2024年8月28日
| 設備ID | NM-402 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 単原子分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 超高圧電子顕微鏡特殊実験棟 108号室 |
| メーカー名 | 日本エフイー・アイ (FEI) |
| 型番 | FEI Titan Cubed |
| キーワード | 超高分解能TEM/STEM |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧80kV－300kV ・分解能70pm (300kV) ・エネルギー分解能80meV (80kV) ・ダブルコレクター ・モノクロメータ |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-402 |
