走査型電子顕微鏡（SEM）
| 設備ID | NU-004 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 走査型電子顕微鏡（SEM） (Scanning Electron Microscope (SEM)) |
| 設置機関 | 名古屋大学 |
| 設置場所 | 名古屋大学東山キャンパス |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL) |
| 型番 | JSM-7500F |
| キーワード | 表面電子顕微鏡観察 表面元素分析 |
| 仕様・特徴 | ・電界放出形電子銃 ・二次電子分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV） ・倍率：×25～1,000,000 加速電圧：0.1～30kV ・ジェントルビーム ・オプション：リトラクタブル反射電子検出器(RBEI)、エネルギー分散形X線分析装置(EDS) |
