300kV収差補正電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月27日
| 設備ID | NM-401 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 回折・散乱 > 電子回折 |
| 設備名称 | 300kV収差補正電子顕微鏡 (Analytical apparatus for electron beam sensitive materials) |
| 設置機関 | 物質・材料研究機構 (NIMS) |
| 設置場所 | NIMS並木地区 超高圧電子顕微鏡特殊実験棟 107号室 |
| メーカー名 | 日本電子 (JEOL ) |
| 型番 | JEM-ARM300F |
| キーワード | 超高分解能 高感度EDS分析 ロードーズ観察 広加速電圧 |
| 仕様・特徴 | ・加速電圧 60, 80, 300kV ・TEM非線形情報限界 60pm ・TEM格子分解能 50pm ・STEM空間分解能 58pm ・CMOSカメラ 動画撮影機能搭載 ・デュアルEDS検出器 合計立体角1.2Sr ・EELS エネルギー分解能0.7eV |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=NM-401 |
