小型原子間力顕微鏡
最終更新日：2023年6月29日
| 設備ID | UT-859 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型プローブ顕微鏡 |
| 設備名称 | 小型原子間力顕微鏡 (Atomin Force Microscope (AFM)) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 工学部2号館電子顕微鏡室 |
| メーカー名 | 日立ハイテクサイエンス (Hitachi High-Tech Science) |
| 型番 | SPA400+SPI4000 |
| キーワード | AFM、原子間力顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | 日立ハイテクサイエンス(旧SII社製)AFM。試料サイズ：φ35mm厚み10mm、スキャナー走査範囲：150μm×150μm（高さ5μm）、20μm×20μm（高さ1.5μm）、AFMモード、DFMモード |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-859 |
