電子顕微鏡
| 設備ID | UT-858 |
|---|---|
| 分類 |
走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 状態分析（各種分光法（元素分析・振動モード・電子状態）を含む） > その他 |
| 装置名称 | 電子顕微鏡 (Scanning Electron Microscope (SEM)) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 工学部2号館電子顕微鏡室 |
| メーカー名 | 日本電子㈱ (JEOL) |
| 型番 | JSM-6610LV Oxford X-max50 + Energy 250 |
| キーワード | EDS、エネルギー分散型X線分析装置。走査電子顕微鏡 |
| 仕様・特徴 | エネルギー分散型X線分析装置(元素分析装置)付きの走査電子顕微鏡です。 |
