半導体パラメータアナライザー
最終更新日:2023年6月29日
設備ID | UT-852 |
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分類 | デバイス特性 > 電気特性評価 |
設備名称 | 半導体パラメータアナライザー (Semiconductor Parameter Analyzer) |
設置機関 | 東京大学 |
設置場所 | 武田先端知クリーンルーム |
メーカー名 | キーサイト (KEYSIGHT) |
型番 | B1500A |
キーワード | 半導体パラメータアナライザ―、電子デバイス特性 |
仕様・特徴 | キーサイト社製。IV測定、CV測定の他、最先端のデバイス評価で必要とされる高速パルスドIV測定まで、様々な測定に対応しており、各種デバイス、材料、半導体、能動部品/受動部品をはじめ、あらゆる電子デバイスの特性評価に最適です。 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-852 |