粉末X線回折装置
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最終更新日:2024年8月28日
設備ID | UT-451 |
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分類 | > |
設備名称 | 粉末X線回折装置 (XRD) |
設置機関 | 東京大学 |
設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
メーカー名 | ㈱リガク (Rigaku Co.) |
型番 | SmartLab (Kα1) |
キーワード | Kα1 キャピラリー 集光法 集中法 定性分析 PDF解析 |
仕様・特徴 | □ 主な特長 対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末X線回折等に威力を発揮。 □ 主な仕様 ・ X線源:3 kW封入型X線管/Cuターゲット ・ 光学系:集中法・集光法 ・ 検出器:シンチレーション検出器:1次元半導体検出器 ・対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系が可能 ・キャピラリー回転測定可能 |
設備状況 | 共用を終了した設備です |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-451 |