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粉末X線回折装置

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最終更新日:2024年8月28日
設備ID UT-451
分類 >
設備名称 粉末X線回折装置 (XRD)
設置機関 東京大学
設置場所 東京大学浅野キャンパス工学部9号館
メーカー名 ㈱リガク (Rigaku Co.)
型番 SmartLab (Kα1)
キーワード Kα1
キャピラリー
集光法
集中法
定性分析
PDF解析
仕様・特徴 □ 主な特長
対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系による高強度、高角度分解能測定が可能。粉末X線回折等に威力を発揮。
□ 主な仕様
・ X線源:3 kW封入型X線管/Cuターゲット
・ 光学系:集中法・集光法
・ 検出器:シンチレーション検出器:1次元半導体検出器
・対称ヨハンソン型結晶を用いた光学系が可能
・キャピラリー回転測定可能
設備状況 共用を終了した設備です
本設備の利用事例 https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-451
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