高分解能透過型分析電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月28日
| 設備ID | UT-402 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分解能透過型分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス超高圧電子顕微鏡室 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-4010 |
| キーワード | 透過型電子顕微鏡、TEM、形態観察 |
| 仕様・特徴 | （１）本体 加速電圧 ： 100、150、200、250、300、350、400kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 焦点距離 ： 3. 1mm 球面収差係数 ： 0.7mm 色収差係数 ： 1.6mm 分解能 ： 0.155nm（粒子像） 試料最大傾斜角 ：±25° 真空度 ： 3×10-5Pa以下（試料室） 排気方式 ： イオン、油拡散ポンプ （２）電子線損傷低減装置（MDS） 組込 （３）画像記録 シートフィルムおよびイメージングプレート（25μm／ピクセル） （４）分析装置 エネルギーロス型分光器（PEELS） ： 組込 エネルギー分散型分光器（EDS） ： 組込 |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-402 |
