超微量元素計測システム(SIMS)
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | UT-306 |
|---|---|
| 分類 | 表面分析（深さ方向元素分析を含む） > 二次イオン質量分析 （SIMS）(TOF,磁場など） |
| 設備名称 | 超微量元素計測システム(SIMS) (SIMS) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学弥生キャンパス農学部3号館 |
| メーカー名 | カメカ (Cameca) |
| 型番 | NanoSIMS 50L |
| キーワード | 微量元素分布分析 同位体分布分析 |
| 仕様・特徴 | □主な用途 微小領域の分析、高空間分解能でのイメージング分析に優れた二次イオン質量分析装置。 □主な用途 ・ 一次イオン源：セシウムおよび酸素 ・最小ビーム径：50nm （セシウム） ・質量分析計：高性能二重収束型質量分析計 ・高感度、高質量分解能での元素・同位体測定が可能。 ・最大7種類の二次イオン像の同時検出ができる |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-306 |
