粉末X線回折装置
設備ID | UT-203 |
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分類 | 回折・散乱 > X線回折 |
装置名称 | 粉末X線回折装置 (XRD) |
設置機関 | 東京大学 |
設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
メーカー名 | ㈱リガク (Rigaku Co.) |
型番 | SmartLab (3kW) |
キーワード | 集中法 平行ビーム法 高温炉 定性分析 定量分析 結晶化度 |
仕様・特徴 | □ 主な特長 ・ 粉末試料測定に適した集中法光学系,薄膜試料の測定に適している多層膜ミラーを用いた平行ビーム光学系。 ・ In-Planeアームを搭載した試料水平配置高精度ゴニオメータを使用したX線回折装置。 ・ 900℃までの高温測定用アタッチメントも用意している。 □ 主な仕様 ・ X線源:3 kW封入型X線管/Cuターゲット ・ 光学系:集中法・多層膜平行ビーム法・インプレーン光学系 ・ 検出器:シンチレーション検出器:1次元半導体検出器 ・SmartLab用AntonPaarDHS900アタッチメント |