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クロスセクションポリッシャー(CP)

設備ID UT-153
分類 微小加工装置 > イオンミリング(断面加工)
装置名称 クロスセクションポリッシャー(CP) (Cross Section Polisher)
設置機関 東京大学
設置場所 東京大学浅野キャンパス工学部9号館
メーカー名 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.)
型番 JEOL SM-090010JEOL SM-090020
キーワード アルゴンイオンミリング
断面作製
無機・有機複合材料
仕様・特徴 □ 主な特徴
表面に対して垂直な断面が制作可能。
□ 主な仕様
イオン加速電圧:2 ~ 6 kV
イオンビーム径半値幅:500 μm(加速電圧:6kV, 試料:Si)
ミリングスピード:1.3 μm/min以上(加速電圧:6kV, 試料:Si)
最大搭載試料サイズ:11mm×9mm×2mm
試料移動範囲:X軸±3mm Y軸:±3mm
試料角度調節範囲:±5°
使用ガス:アルゴンガス
    クロスセクションポリッシャー(CP) クロスセクションポリッシャー(CP)
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