高分解能走査型電子顕微鏡
| 設備ID | UT-103 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 高分解能走査型電子顕微鏡 (Field Emission Scanning Electron Microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JSM-7000F |
| キーワード | EBSD測定 組成分布観察 ナノ材料 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧：0.5～30kV 0.5～2.9kVは10Vステップ可変 2.9～30kVは100Vステップ可変 二次電子分解能：1.2nm（加速電圧30kV），3.0nm (加速電圧1kV） 倍率：×10（WD40）～500,000 プローブ電流：10-12～2×10-7A （２）結晶方位測定装置（株式会社TSLソリューションズ） ソフトウェアー OIM Ver7.3.1 （３）高感度反射電子検出器 （４）走査透過電子検出器(STEM) |
