低損傷走査型分析電子顕微鏡
| 設備ID | UT-101 |
|---|---|
| 分類 | 走査型顕微鏡 > 走査型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | 低損傷走査型分析電子顕微鏡 (Low Damage Field Emission Scanning Electron Microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JSM-7500FA |
| キーワード | 極低加速電圧観察 高分解能組成分布観察 エネルギー分散型X線分光 ナノ材料 無機・有機複合材料 |
| 仕様・特徴 | □ 主な特長 ジェントルビーム機能を搭載し加速電圧1kVで1.4nmの高分解能 □ 主な仕様 ・二次電子像分解能：1.0nm（15kV）、1.4nm（1kV） ・倍率：×25～×1,000,000 ・加速電圧：0.1kV～30kV |
