クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡
| 設備ID | UT-010 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > クライオ電子顕微鏡 |
| 装置名称 | クライオ透過型/透過走査型電子顕微鏡 (Cryo-TEM/STEM) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2100F |
| キーワード | クライオTEM、組織切片、有機材料、ソフトマテリアル、低温凍結試料観察、 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 ・ ショットキー型FE電子銃装備 ・ 分解能＜0.31nm ・ EDS、EELS検出器装備 ・ TEM/STEM 3次元トモグラフィ機能装備 ・ 極低温観察用クライオトランスファホルダ装備 ・ CCD検出器（4k×4k,1k×1k） ・加速電圧：200kV、120kV |
