ハイコントラスト透過型電子顕微鏡
| 設備ID | UT-009 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 装置名称 | ハイコントラスト透過型電子顕微鏡 (High Contrast Transmission Electron Microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2010HC |
| キーワード | 形態観察 ナノ材料 定性分析 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 試料最大傾斜角 ： ±30° 試料移動 ： モーター駆動(X、Y、Z) 排気方式 ： ターボ分子ポンプ(TMP) （２）画像記録 シートフィルムおよびデジタル画像 （３）分析機能：EDS |
