高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡
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最終更新日：2024年8月28日
| 設備ID | UT-008 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 高分解能トップエントリー型透過電子顕微鏡 (Top-entry Transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2000EX |
| キーワード | 高分解能、透過型電子顕微鏡、ナノ材料 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧 ： 80、100、120、160、200kV 電子線源 ： 単結晶LaB6 分解能 ： 0.1nm（格子像） 試料最大傾斜角 ： ±10° 排気方式 ： 油拡散ポンプ （２）画像記録 シートフィルム |
| 設備状況 | 共用を終了した設備です |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-008 |
