高分解能分析電子顕微鏡
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | UT-007 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > |
| 設備名称 | 高分解能分析電子顕微鏡 (Transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-2010F |
| キーワード | 透過捜査型電子顕微鏡、高分解能電子顕微鏡、分析電子顕微鏡、元素分析、TEM、STEM |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 （１）本体 加速電圧：80,100,120,160,200kV 電子線源：熱電界放射型 分解能：0.192nm（粒子像） 試料最大傾斜角：±20° 試料移動：モーター駆動 排気方式：スパッターイオン、油拡散ポンプ （２）画像記録 Gtan社 UltraScan （３）分析装置 ２）エネルギー分散型分光器（EDS） |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-007 |
