原子分解能元素マッピング構造解析装置
| 設備ID | UT-005 |
|---|---|
| 分類 |
透過電子顕微鏡 > 走査型透過電子顕微鏡 透過電子顕微鏡 > |
| 装置名称 | 原子分解能元素マッピング構造解析装置 (Atomic resolution element mapping structure analyzer) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200F Thermal FE STEM |
| キーワード | 結晶構造解析 組成分布観察 ナノ材料 電子エネルギー損失分光 エネルギー分散型X線分光 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 ・ 分解能：STEM明視野格子像 0.136nm STEM暗視野格子像 0.082nm TEM格子像 0.10nm TEM粒子像 0.19nm ・ 倍率： STEM像 200～150,000,000倍 TEM像 50～2,000,000倍 ・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み ・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、 軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k） |
