環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡
| 設備ID | UT-004 |
|---|---|
| 分類 |
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| 装置名称 | 環境対応型超高分解能走査透過型電子顕微鏡 (Environmental-adapted ultra-high-resolution scanning transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200F Cold FE |
| キーワード | 原子分解能STEM、STEM-EELS、STEM-EDS、原子分解能元素マッピング、その場観察（加熱、クライオ）、グラフェン、カーボンナノチューブ、金属触媒微粒子、結晶粒界、セラミックス、合金 |
| 仕様・特徴 | □ 主な仕様 ・ 加速電圧:200kV、80kV ・ 分解能：TEM格子像 0.10nm TEM粒子像 0.23nm STEM明視野格子像 0.136nm STEM暗視野格子像 0.10nm ・ 倍率：TEM像 50～2,000,000倍 STEM像 200～150,000,000倍 ・ 収差補正装置：照射系球面収差補正装置 組み込み ・ 検出器：エネルギー分散形X線分析装置 (SDD×2)、電子線エネルギー損失分光器（EELS）、軽元素対応像検出器、CCD検出器（2k×2k,4k×2k） ・試料2軸傾斜スライドカバーホルダー ・高温加熱通電ホルダー |
