超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM)
最終更新日：2024年4月5日
| 設備ID | UT-003 |
|---|---|
| 分類 | 透過電子顕微鏡 > 透過型電子顕微鏡 |
| 設備名称 | 超高分解能透過型電子顕微鏡(Cs-HRTEM) (Ultra-high-resolution transmission electron microscope) |
| 設置機関 | 東京大学 |
| 設置場所 | 東京大学浅野キャンパス工学部9号館 |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 (JEOL Ltd.) |
| 型番 | JEM-ARM200F Cold FE |
| キーワード | 高分解能TEM法、その場観察（加熱、クライオ）、グラフェン、カーボンナノチューブ、炭酸カルシウム、MOF、金属触媒微粒子、結晶粒界、有機半導体、 |
| 仕様・特徴 | □ 主な特長 ・ 結像系球面収差補正装置を搭載することにより、透過顕微鏡像(TEM)の分解 能が0.11nmまで向上 ・ 高圧、対物電流の変動を従来機の50%に抑制し、電気的安定度を大幅に向上 ・ 鏡筒径を大きくし剛性を高めるとともに、架台の構造を最適化し、装置全体の機械的強度を従来機の約2倍に強化し、機械的安定度を向上 ・ 熱および磁気シールドを標準装備。また、装置周囲の対流の変化による鏡筒表面の温度変化を防ぐために、鏡筒全体をカバーで被覆 □ 主な仕様 ・ 加速電圧:200kV、120kV、100kV、80kV、60kV ・ 分解能：粒子像透過顕微鏡分解能 0.10nm(加速電圧200kV) ・ 倍率：走査透過像 200～150,000,000倍 ・ 透過顕微鏡像 50～2,000,000倍 ・ 収差補正装置：結像系球面収差補正装置 ・ 検出器：CCDカメラ、CMOSカメラ×2 |
| 設備状況 | 稼働中 |
| 本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=UT-003 |
