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"日本原子力研究開発機構（JAEA）"で検索した結果 8件
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表面化学実験ステーション (Surface chemistry experimental apparatus)
- 設備ID
- AE-010
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- オミクロン (Scienta Omicron, Inc.)
- 型番
- Hipp-3
- 仕様・特徴
- "表面界面の電子状態の精密分析や時分割観察が可能
・高輝度・高エネルギー分解能高輝度軟X線放射光(400～1700eV)
・複合表面分析（LEED、Arスパッター、SPM、蒸着（実績：Hf、Ge、Cs、Auなど）
・超高真空(2×10-8Pa)～ガス雰囲気(10-3Pa)
室温～1150℃加熱中の光電子分光観察
・材料プロセスの時分割観察、超音速分子線を使った反応ダイナミクス
・測定試料：半導体（Si、Ge、SiC、GaN etc）、金属（Cu、Ni、各種合金）、グラフェン等の新材料、ナノ粒子、機能物質など。単結晶、多結晶、アモルファス、薄膜等の固体試料
・導入ガス：酸素、水素、水、ギ酸、一酸化窒素、メタン、エタン、塩化メチル、NO2、COなど"
走査型透過X線顕微鏡 (Scanning Transmission X-ray microscopy apparatus)
- 設備ID
- AE-009
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- N, OのK吸収端, および遷移金属L2,3吸収端、希土類M4,5吸収端など、400~1900eVに吸収端のある元素の実空間2次元マッピングが可能で、場所ごとの吸収スペクトルを得ることができる。
・空間分解能：~50 nm
・試料温度：室温のみ
・検出方法：透過法のみ
硬X線光電子分光装置 (Hard X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- AE-008
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- シエンタオミクロン社 (Scienta Omicron, Inc.)
- 型番
- 光電子アナライザー: EW4000-１０keV
- 仕様・特徴
- 硬Ｘ線を励起光として用いることで、バルク敏感な電子状態の観測ができる。
・励起光エネルギー：6, 8, 10keV選択可能
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・試料温度：RT-900K
・中和銃による絶縁物測定
高輝度放射光XAFSシステム (XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-003
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 試料中の特定元素の原子価や局所構造を決定
・エネルギー範囲：4～72keV
・測定方法：通常の透過法／微量元素用の蛍光法、通常のStepScan／高速計測対応（QuickScan）
・試料：少量核燃物質、国際規制物資、RI・アクチノイド試料
・KBミラーによる数十μm程度の空間分解能
・クライオスタットによる低温測定
・電気炉による高温測定
応力・イメージング測定装置 (The apparatus for imaging and measuring material stress)
- 設備ID
- AE-004
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- 浜松ホトニクス 米倉製作所 DEBEN (Hamamatsu Photonics K.K. YONEKURA MFG. Co., Ltd. DEBEN)
- 型番
- M11427-43 CT5000
- 仕様・特徴
- 金属材料などの変形中の応力評価やイメージングが可能
【応力・ひずみ】
・時間分解能：最大100Hz
・ひずみ精度：0.01%（応力精度：30MPa＠鉄鋼材料）
・空間分解能：最小5μm
・侵入深さ：10mm＠鉄鋼材料、50mm＠アルミニウム合金
・負荷中、高温中での計測が可能
【イメージング】
・時間分解能：最大1000Hz
・空間分解能：最小3μm
・試料サイズ：φ4mm
・CT計測が可能（最小時間約5分）
・負荷中での計測が可能
〇上述2つの測定を併用することが可能
〇レーザー等の持ち込み装置を利用したその場時分割計測が可能
カッパ型多軸回折計 (κ-type X-ray diffractometer)
- 設備ID
- AE-005
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- ニューポート (Newport)
- 型番
- 特注
- 仕様・特徴
- 通常の回折計のような6軸に加え回転軸を持ち表面の構造解析も可能
・長い2thetaアーム(による高分解能性
・堅牢な回折計
・広いオープンスペースによる試料選択の柔軟性
・試料温度：10-1000K
・試料：固体（誘電体、非晶質）や薄膜
・電気化学同時測定
エネルギー分散型XAFS装置 (Energy-dispersive XAFS measuring station)
- 設備ID
- AE-006
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム (Home-made)
- 型番
- なし
- 仕様・特徴
- 元素の局所構造・電子状態を時間分解観測
・観測可能元素：Ti以上
・温度：20-1000 K
・測定レート：最大100 Hz
・ガスフロー制御システムあり
・ポテンシオスタットによる電気化学測定可能
軟X線光電子分光装置 (Soft X-ray photoelectron spectrometer)
- 設備ID
- AE-007
- 設置機関
- 日本原子力研究開発機構（JAEA）
- 設備画像
- メーカー名
- カスタム（電子分析アナライザー: VG Scienta） (Home-made (Electron Analyzer: VG Scienta))
- 型番
- 電子分析アナライザー: SES-2002
- 仕様・特徴
- 角度分解光電子分光（ARPES）測定も可能な光電子分光装置。希土類及び3d遷移金属化合物の詳細な電子構造を調べることができる。
・光エネルギー：400-1500 eV
・エネルギー分解能：50-200 meV
・試料温度：6-300 K
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