集束イオンビーム加工装置
最終更新日:2024年8月1日
設備ID | TU-508 |
---|---|
分類 | 微小加工装置 > 集束イオンビーム(FIB) |
設備名称 | 集束イオンビーム加工装置 (Dual-Beam FIB System ) |
設置機関 | 東北大学 |
設置場所 | 東北大学片平キャンパス金属材料研究所 |
メーカー名 | サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社 (Thermo Fisher Scientific K.K.) |
型番 | Versa 3D |
キーワード | デュアルビームFIB マイクロサンプリング シリアルセクショニング EDS |
仕様・特徴 | ・加速電圧 1 kV~30 kV ショットキー型電界放射電子銃 ・加速電圧 0.5 kV~30 kV Gaイオン銃 ・保護膜形成 Pt蒸着・C蒸着 ・シリアルセクショニング ・反射電子検出器, EDS検出器 |
設備状況 | 稼働中 |
本設備の利用事例 | https://nanonet.mext.go.jp/user_report.php?keyword=TU-508 |