共用設備検索結果
単結晶X線解析 (Single Crystal X-ray Diffractometer)
- 設備ID
- MS-235
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- XtaLAB Synergy-R/DW
- 仕様・特徴
- 極低温（100K～）からの測定が可能。高輝度Ｘ線源（PhotonJet-R/DW：出力1.2kW）と高速読み出しHPC検出器（HyPix-6000）の組み合わせで、超高速・超高精度測定が可能。
高磁場NMR（600MHz溶液） (High magnetic field NMR (600MHz liquid))
- 設備ID
- MS-237
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JNM-ECZL600G
- 仕様・特徴
- 磁場：14.1T
感度(S/N)：Liquid (Royal HFX) 1H≧1050、13C≧340
プローブ：Royal HFX（1H,19F,15N～31P）
T10L（1H,103Rh～15N）
FG電源：30A（90G/cm）
電子プローブマイクロアナライザ（EPMA） (Electron Probe Micro Analyzer)
- 設備ID
- MS-236
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-8230 SS-94000SXES 軟X線分光器搭載
- 仕様・特徴
- 50 eVまでの低エネルギーを測定できる軟X線分光器（SXES）を搭載。
X線磁気円二色性分光 (X-ray magnetic circular dichroic spectroscopy)
- 設備ID
- MS-001
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- JANIS (JANIS)
- 型番
- 7THM-SOM-UHV
- 仕様・特徴
- UVSOR-III BL4B (100-1000eV円偏光)
超伝導磁石はJANIS社製7THM-SOM-UHV (±7T, 5K)、
試料作製槽 LEED/AES, 蒸着などを装備
マスクレス露光装置 (Maskless Lithography System)
- 設備ID
- MS-101
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- ナノシステムソリューションズ (NanoSystem Solutions)
- 型番
- DL-1000
- 仕様・特徴
- 【付帯設備】
精密温度調整機能付クリーンブース
マスクアライナー（ミカサ社製MA-10）
スピンコーター（ミカサ社製MS-A100）
3次元光学プロファイラーシステム (3D Optical Profilers)
- 設備ID
- MS-102
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Zygo (Zygo)
- 型番
- Nexview
- 仕様・特徴
- 3次元光学プロファイラーシステム
精密温度調整機能付クリーンブース
電子ビーム描画装置 (Electron Beam Lithgraphy System)
- 設備ID
- MS-103
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- エリオニクス (Elionix Inc.)
- 型番
- ELS-G100
- 仕様・特徴
- 最大加速電圧100kV, 最小ビーム径1.8nm, 最小描画線幅6nm
低真空分析走査電子顕微鏡 (Low vacuum analysis scanning electron microscope)
- 設備ID
- MS-202
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ (Hitachi High-Tech)
- 型番
- SU6600
- 仕様・特徴
- ショットキー形電子銃
空間分解能1.2nm(30kV)、3.0nm(30kV)
低真空機能（10～300Pa）
EDS（EDX）（BrukerAXS社製 FQ5060/XFlash6）
電界放出形透過型電子顕微鏡 (Field emission transmission electron microscope)
- 設備ID
- MS-203
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100F
- 仕様・特徴
- 電子銃 フィールドエミッション
加速電圧 200kV
分解能 0.23nm（粒子像）、0.1nm（格子像）
倍率 X2,000 ～ X1,500,000
試料 3mmφ以内
走査プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscope)
- 設備ID
- MS-204
- 設置機関
- 自然科学研究機構 分子科学研究所
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker (Bruker)
- 型番
- Dimension XR Icon NanoEDimension XR Icon NanoEC
- 仕様・特徴
- 形状測定、機械特性測定、電気特性測定、電気化学
大気非暴露ボックス、環境制御ユニット(-35℃～250℃、湿度5%～50％）