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原子分解能分析電子顕微鏡群 (Atomic-Resolution Analytical Electron Microscope)
- 設備ID
- NI-001
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子/ガタン (JEOL/Gatan, Inc./Gatan, Inc.)
- 型番
- JEM-ARM200F/PIPS II/Model 656
- 仕様・特徴
- ●走査透過電子顕微鏡（JEM-ARM200F）
加速電圧：80kV・200kV，電子銃：冷陰極電界放出型
EDS、EELS、デジタルCCDカメラシステム付設
●イオンミリング装置（PIPS II）
高精度で無機化合物、金属、複合材料などをAr+イオンにより研磨できる。イオン銃加速電圧：0.1～7kV 冷却ステージあり
●ディンプルグラインダー（Model 656）
イオンミリングの前処理として固体板状試料に3mmΦ以下のくぼみをつけることができる。
- 設備状況
- 稼働中
白色共焦点顕微鏡 (White light confocal microscope)
- 設備ID
- NI-003
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- レーザーテック (Lasertec Corporation)
- 型番
- OPTELICS HYBRID C3
- 仕様・特徴
- 白色光源および6波長選択機能
高さ測定、線幅測定、表面粗さ測定（JI S、ISO対応）、３D表示
1μm～nmの透明膜の膜厚測定
室温～1000℃の高温加熱ステージ（真空、不活性ガス、大気中での測定）
- 設備状況
- 稼働中
メスバウアー分光装置群 (Mössbauer Spectrometer)
- 設備ID
- NI-004
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- ラボラトリ・イクイップメント、 WissEl、Montana Instruments、他 (Laboratory equipment corporation, WissEl, Montana Instruments, etc.)
- 型番
- 複合システム
- 仕様・特徴
- 57Fe 核，119Sn 核
透過法，内部転換電子検出法
低温測定 (4~350 K)が可能
- 設備状況
- 稼働中
X線光電子分光装置 (X-ray Photoelectron Spectrometer)
- 設備ID
- NI-005
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- Quantes
- 仕様・特徴
- 線源：Al-Kα, Cr-Kα
低エネルギー電子とイオン同時照射による帯電中和
アルゴンモノマー／クラスター切り替え可能なデュアルイオン銃を搭載
-120℃～250℃（試料ステージ上）
- 設備状況
- 稼働中
UV/VIS/NIR分光光度計 (UV/VIS/NIR Spectrophotometer)
- 設備ID
- NI-006
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- Ｖ570
- 仕様・特徴
- ・吸収スペクトルの波長範囲：190～2500nm（オプション使用時は制限あり）
・入射角を変化させた反射スペクトル測定が可能
・透過測定にはクライオスタットを使用した低温可能
・付設装置：１回反射測定装置SLM468、積分球装置ISN470、粉末試料ホルダ、フィルムホルダFLH466、絶対反射率測定装置ARN475、低温測定用クライオスタット、ターボ排気システム（アルカテルACT200）
- 設備状況
- 稼働中
単結晶X線構造解析装置群 (Single Crystal X-ray Diffractometer)
- 設備ID
- NI-008
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク/MBRAUN (Rigaku/MBRAUN)
- 型番
- VariMax with DW RAPID/UNIlab
- 仕様・特徴
- ●単結晶X線回折装置（VariMax with DW RAPID）
イメージングプレート型 測角範囲（-60º～+144º）
線源 Cu /Moの選択が可能
室温～−180ºCでの測定が可能
小さい単結晶（～0.05Å角程度の微小結晶）も測定可能
●グローブボックス（UNIlab）
N2（またはAr）下における少量のサンプル調整（合成）が可能、冷蔵庫内蔵（4ºC）、電子天秤あり
- 設備状況
- 稼働中
電子スピン共鳴装置 (Electron Spin Resonance Spectrometer)
- 設備ID
- NI-009
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JES-RE1X
- 仕様・特徴
- 周波数：8800～9600MHz（Xバンド）
出力：0.1μW～200mW可変 測定対象：固体もしくは凍結サンプル 測定：77K
- 設備状況
- 稼働中
表面増強赤外分光装置 (Surface-Enhanced Infrared Spectroscope)
- 設備ID
- NI-010
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本分光 (JASCO)
- 型番
- FT-IR4200ST
- 仕様・特徴
- 測定範囲：4,000～1,000 cm–1
in situ測定（電気化学）
- 設備状況
- 稼働中
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer)
- 設備ID
- NI-011
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- PHI TRIFTV nano TOF
- 仕様・特徴
- 質量分解能：9000M/Δm以上
スペクトル測定およびマッピング、深さ分析
サンプルの大気非暴露測定可
- 設備状況
- 稼働中
顕微蛍光X線分析装置 (Micro Fluorescent X-ray Analyzer)
- 設備ID
- NI-012
- 設置機関
- 名古屋工業大学
- 設備画像
- メーカー名
- 堀場製作所 (HORIBA)
- 型番
- XGT-7200VNM
- 仕様・特徴
- 蛍光X線分析と透過X線の同時観察が可能
10μｍおよび1.2mmプローブ搭載
点およびマッピング測定に対応可能
真空環境下および大気環境下での測定
- 設備状況
- 稼働中