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ダブル球面収差補正付透過型電子顕微鏡 (Double spherical aberration corrected transmission electron microscope (Cs-corrected TEM))
- 設備ID
- SH-001
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- ＪＥＭ-2100Ｆ
- 仕様・特徴
- 球面収差補正装置： EM-Z07167T 2段つき
加速電圧：80kV(カーボンに特化した低加速電圧で運転中)
分析機能：EELS、EDS
- 設備状況
- 稼働中
走査型透過電子顕微鏡 (Scanning transmission electron microscope)
- 設備ID
- SH-002
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- HD-2300A
- 仕様・特徴
- 分解能0.204nm
加速電圧200kV
- 設備状況
- 稼働中
原子分解能分析電子顕微鏡 (Atomic-resolution analytical electron microscope )
- 設備ID
- SH-003
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F NEOARM
- 仕様・特徴
- 分解能STEM-HAADF 0.078nm（200kV）
加速電圧 30、80、200kV
自動収差補正システム
- 設備状況
- 稼働中
光電子分光装置 (X-ray photoelectron spectroscopy)
- 設備ID
- SH-004
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- アルバックファイ (Ulvac Phi)
- 型番
- QuanteraⅡ
- 仕様・特徴
- ディユアルビーム方式帯電中和
絶縁物分析可能
分析領域：7.5μ～1.4mm
- 設備状況
- 稼働中
試料水平型強力X線回析装置 (X-ray diffractometer)
- 設備ID
- SH-005
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- リガク (Rigaku)
- 型番
- SmartLab 9K
- 仕様・特徴
- ⾼フラックス9 kW回転対陰極X線発⽣装置
ハイブリッドピクセルアレイ検出器
- 設備状況
- 稼働中
飛行時間型二次イオン質量分析装置 (Time of flight secondary ion mass spectroscopy)
- 設備ID
- SH-006
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- TOF.SIMS5-ADSD-100 (ION-TOF)
- 型番
- TOF.SIMS5-ADSD-100
- 仕様・特徴
- 高質量分解能パルス圧縮モード：最小スポット径600nm
高空間分解能モード：最小スポット径120nm
バーストモード：質量分解能と空間分解能を両立
µm2からcm2まで測定可能
深さ分解能 ： 1nm 以下
質量分解能>11,000 @29u (FWHM)
- 設備状況
- 稼働中
複合ビーム加工観察装置 (Dual beam analysis system )
- 設備ID
- SH-007
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JIB-4610F
- 仕様・特徴
- FE-SEM 加速電圧 0.1～30ｋV
FIB 分解能4nm 加速電圧 1～30kV
Cryoオプション付き ピックアップシステム付き
- 設備状況
- 稼働中
オージェ電子顕微鏡 (Auger electron microscope)
- 設備ID
- SH-008
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JAMP-9510
- 仕様・特徴
- FE電子銃 加速電圧 0.5～30kV
静電半球アナライザ
- 設備状況
- 稼働中
レーザラマン分光装置 (Laser Raman Spectrometer)
- 設備ID
- SH-009
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- レニショー (RENISHAW)
- 型番
- inVa Reflex
- 仕様・特徴
- シングルモノクロメーター、焦点距離250mm、明るさf/4
レーザ 532nm
- 設備状況
- 稼働中
リモート対応型電子線マイクロアナライザー (Remote-controlled electron probe microanalyzer)
- 設備ID
- SH-010
- 設置機関
- 信州大学
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JXA-iHP200F
- 仕様・特徴
- 2次電子分解能 2.5nm
分析元素Ｂ～Ｕ
ＷＤＳ：５基、ＥＤＳ１基
最大試料100mm×100mm×50mm
加速電圧1～30kV
- 設備状況
- 稼働中