共用設備検索結果
核磁気共鳴スペクトル測定装置 800MHz (NMR 800MHz)
- 設備ID
- JI-001
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
- 型番
- AVANCE III 800
- 仕様・特徴
- -現在利用停止中-（故障中で復帰の目途が立っておりません）
分光計 AVANCE III（4-channel 仕様）
磁場強度 18.79テスラ
1H共鳴周波数 800MHz
検出器 TCI-triple resonance cryogenic probe
観測可能核 1H, 13C, 15N, 2H
感度 S/N for 1H > 7,600
温度可変装置付
液体窒素再凝縮装置付
核磁気共鳴スペクトル測定装置 500MHz (NMR 500MHz)
- 設備ID
- JI-002
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
- 型番
- AVANCE III 500
- 仕様・特徴
- 分光計 AVANCE III （固体・溶液兼用）
磁場強度 11.7テスラ
1H共鳴周波数 500MHｚ
5mm径 多核種用プローブ(液体試料用)
CPMASプローブ（固体試料用）
液体窒素再凝縮装置付
核磁気共鳴スペクトル測定装置 400MHz (NMR 400MHz)
- 設備ID
- JI-003
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker BioSpin (Bruker BioSpin )
- 型番
- Avance NEO 400
- 仕様・特徴
- 分光計：AVANCE NEO（溶液用）
磁場強度：9.4テスラ
1H共鳴周波 400MHz
5mm径 多核種用プローブ（液体試料用）
液体窒素再凝縮装置付
マトリックス支援レーザー脱離イオン化タンデム飛行時間型質量分析計 (MALDI-TOF/TOF MS)
- 設備ID
- JI-005
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Bruker Daltonics (Bruker Daltonics )
- 型番
- ultrafleXtreme
- 仕様・特徴
- 分解能 最大約 40,000
観測質量範囲 m/z 20 - 50万
試料の量 pmol - fmol order
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 MALDI
MS/MS（CID）
ガスクロマトグラフ質量分析計 (GC-MS)
- 設備ID
- JI-006
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- AccuTOF GCX
- 仕様・特徴
- 気化室温度350℃
観測質量範囲 m/z 50 -800
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 EI, CI 熱分解装置使用可
液体クロマトグラフ質量分析計 (LC-MS)
- 設備ID
- JI-007
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- Waters (Waters)
- 型番
- ACQUITY UPLC H-Class およびM-Class（ナノLC）, SYNAPT XS
- 仕様・特徴
- 分解能 最大約 75000
観測質量範囲 m/z 50 - 64000
イオン化モード Positive, Negative
イオン源 ESI, APCI, ナノESI
MS/MS（CID）
イオンモビリティー分析可
Progenesis QI for Proteomicsソフトウェア利用可
原子分解能走査透過型電子顕微鏡 (STEM)
- 設備ID
- JI-008
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-ARM200F
- 仕様・特徴
- 加速電圧：200 kV
電子銃 ショットキー型電界放出銃
分解能：
0.08 nm（走査透過像）
0.19 nm（透過顕微鏡 粒子像）
0.10 nm（透過顕微鏡 格子像）
EDS、EELSによる組成分析機能付
照射系収差補正装置：組み込み
UHR仕様
透過電子顕微鏡 (TEM)
- 設備ID
- JI-009
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日本電子 (JEOL)
- 型番
- JEM-2100Plus
- 仕様・特徴
- 【半遠隔利用可】
加速電圧：60, 100, 120, 200kV
EDSによる組成分析機能付
UHR仕様
低加速走査電子顕微鏡 (FE-SEM)
- 設備ID
- JI-010
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- 日立ハイテク (Hitachi High-Tech)
- 型番
- Regulus8230
- 仕様・特徴
- 【遠隔利用可】
加速電圧：0.5-30kV（照射電圧0.01-20kV）
分解能：0.6nm at 15kV
EDX、EBSD、PD-BSE、EBIC
走査型オージェ電子分光顕微鏡 (SAM)
- 設備ID
- JI-011
- 設置機関
- 北陸先端科学技術大学院大学（JAIST）
- 設備画像
- メーカー名
- アルバック・ファイ (ULVAC-PHI)
- 型番
- SAM670Xi
- 仕様・特徴
- 元素分析：原子番号3以上
最大加速電圧：25kV
走査電子ビーム径：15nm以下（加速電圧20kV、電流１nA）
エネルギー分析：0-3200 eV
超高真空